![华润赛美科微电子(深圳)有限公司](http://img.czvv.com/logo/593a586ed7a648db929f55d1/593a586ed7a648db929f55d1.png)
华润赛美科微电子(深圳)有限公司 main business:设计、生产经营线宽0.35微米及以下大规模集成电路、新型电子元器件、混合集成电路、电力电子器件;产品售后技术服务。新能源汽车充电设施运营(涉及专项规定的取得相关许可后方可经营);电力销售。^ and other products. Company respected "practical, hard work, responsibility" spirit of enterprise, and to integrity, win-win, creating business ideas, to create a good business environment, with a new management model, perfect technology, attentive service, excellent quality of basic survival, we always adhere to customer first intentions to serve customers, persist in using their services to impress clients.
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- 440307503254248
- 91440300767597658T
- 存续(在营、开业、在册)
- 有限责任公司(外国法人独资)
- 2005年01月20日
- 陈益群
- 1000.000000
- 2005年01月20日 至 2055年01月20日
- 深圳市市场监督管理局
- 2017年01月04日
- 深圳市龙岗区宝龙工业区宝龙五路5号
- 设计、生产经营线宽0.35微米及以下大规模集成电路、新型电子元器件、混合集成电路、电力电子器件;产品售后技术服务。新能源汽车充电设施运营(涉及专项规定的取得相关许可后方可经营);电力销售。^
序号 | 公布号 | 发明名称 | 公布日期 | 摘要 |
1 | CN103513970B | 用于集成电路自动分选机的数据提取方法及其系统 | 2016.12.21 | 一种用于集成电路自动分选机的数据提取方法与系统,该方法包括如下步骤:提取自动分选机的统计结果所对应的 |
2 | CN104423346B | 硅片烘烤的控制方法、控制装置及其控制系统 | 2017.01.18 | 一种硅片烘烤的控制方法,包括:获取至少一个烘箱的烘烤结束时间,每个所述烘烤结束时间分别与每个所述烘箱 |
3 | CN106019109A | 晶体管直流放大倍数的测试装置及方法 | 2016.10.12 | 本发明涉及一种晶体管直流放大倍数的测试装置,包括自动测试设备,其自动测试设备包括第一电源、第二电源及 |
4 | CN103543368B | 集成电路开/短路测试方法及测试机 | 2016.06.01 | 本发明涉及一种集成电路OS测试机,包括控制单元、电源模块、测试插座、扫描测试模块、指示模块及控制按钮 |
5 | CN105486892A | 集成电路探针卡及制造方法、检测探针卡装置及方法 | 2016.04.13 | 本发明涉及一种集成电路探针卡及制造方法、检测探针卡装置及方法,其中,集成电路探针卡由通用植针底板和专 |
6 | CN105467256A | 芯片测试分选方法 | 2016.04.06 | 本发明涉及一种芯片测试分选方法,包括步骤,S1.提供测试仪以及多工位分选机;S2.通过电缆将测试仪与 |
7 | CN105470158A | 晶圆测试探针台及其测试方法 | 2016.04.06 | 本发明公开了一种晶圆测试探针台,用于对待测晶圆进行自动测试,包括控制器、模拟输入装置以及模拟输入控制 |
8 | CN105445635A | 金属氧化物半导体场效应管的导通电阻的测量方法 | 2016.03.30 | 本发明涉及一种金属氧化物半导体场效应管的导通电阻的测量方法,包括下列步骤:通过吸盘吸住晶圆的背面;将 |
9 | CN104422801A | 负载板、自动测试设备和IC测试方法 | 2015.03.18 | 本发明提供了一种负载板、自动测试设备和IC测试方法。所述负载板,应用于自动测试设备,包括:接口电路, |
10 | CN104423346A | 硅片烘烤的控制方法、控制装置及其控制系统 | 2015.03.18 | 一种硅片烘烤的控制方法,包括:获取至少一个烘箱的烘烤结束时间,每个所述烘烤结束时间分别与每个所述烘箱 |
11 | CN103543368A | 集成电路开/短路测试方法及测试机 | 2014.01.29 | 本发明涉及一种集成电路OS测试机,包括控制单元、电源模块、测试插座、扫描测试模块、指示模块及控制按钮 |
12 | CN103513970A | 用于集成电路自动分选机的数据提取方法及其系统 | 2014.01.15 | 一种用于集成电路自动分选机的数据提取方法与系统,该方法包括如下步骤:提取自动分选机的统计结果所对应的 |
13 | CN202494755U | 针卡及多管芯晶圆测试系统 | 2012.10.17 | 本实用新型涉及一种多管芯晶圆测试系统,包括通过电缆连接的测试机和针卡,测试机包括多个负载板插座,针卡 |
14 | CN202494934U | 保护气体自动控制装置 | 2012.10.17 | 本实用新型涉及一种保护气体自动控制装置,包括通过气管顺序连接形成气路的电磁阀、调节阀以及喷嘴,还包括 |
15 | CN202306358U | 烘箱温度记录装置 | 2012.07.04 | 本实用新型涉及一种烘箱温度记录装置,包括对烘箱温度进行实时监测的温度监测器、存储器以及与所述温度监测 |
16 | CN202275096U | 时间测量模块保护装置 | 2012.06.13 | 本实用新型涉及一种时间测量模块保护装置,用于对时间测量模块进行保护,包括缓冲器、可选通保护电路,所述 |
17 | CN202231410U | 自动测试设备保护装置 | 2012.05.23 | 本实用新型涉及一种自动测试设备保护装置,连接在自动测试设备和外部测试器件之间,包括用于与自动测试设备 |
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